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滴水角測定儀 1.水滴角度可量化且明確 2.均勻性測量 3.誤差值小 成本稍高 表面達因測試劑 成本低 誤差大，且多次測試后影響準確性，僅知有無過標準 原子力顯微鏡AFM 測量極細微（原子表面、奈 米結構） 成本高，成像小、速度慢，探頭容易損傷
水滴角測試儀 1.水滴角度可量化且明確 2.均勻性測量 3.誤差值小 成本稍高 表面達因測試劑 成本低 誤差大，且多次測試后影響準確性，僅知有無過標準 原子力顯微鏡AFM 測量極細微（原子表面、奈 米結構） 成本高，成像小、速度慢，探頭容易損傷
粵公網安備44190002002798號
