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環(huán)境檢測(cè)設(shè)備測(cè)試項(xiàng)目及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)
更新日期:2012-11-06   點(diǎn)擊次數(shù):1746次

環(huán)境檢測(cè)設(shè)備測(cè)試項(xiàng)目及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

海達(dá)儀器/4000711808

 

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環(huán)境檢測(cè)設(shè)備測(cè)試項(xiàng)目及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

1、  低溫試驗(yàn) 按GB/T2423.1—89《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法低溫試驗(yàn)》;

GB/T2423.22—87《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)方法》 進(jìn)行低溫試驗(yàn)及溫度變化試驗(yàn)。溫度范圍:-70℃~10℃。

2、  高溫試驗(yàn) 按GB/T2423.2—89《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法高溫試驗(yàn)》;

GB/T2423.22—87《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)方法》 進(jìn)行高溫試驗(yàn)及溫度變化試驗(yàn)。溫度范圍:10℃~210

3、  濕熱試驗(yàn) 按GB/T2423.3—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法恒定濕熱試驗(yàn)》;

GB/T2423.4—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法交變濕熱試驗(yàn)》 進(jìn)行恒定濕熱試驗(yàn)及交變濕熱試驗(yàn)。濕度范圍:30%RH100%RH

4、霉菌試驗(yàn)

GB/T2423.16—90《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法長(zhǎng)霉試驗(yàn)》進(jìn)行霉菌試驗(yàn)。

5、鹽霧試驗(yàn) 按GB/T2423.17—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法鹽霧試驗(yàn)》進(jìn)行鹽霧試驗(yàn)。

6、低氣壓試驗(yàn) 按GB/T2423.21—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法低氣壓試驗(yàn)》; GB/T2423.25—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法低溫/低氣壓試驗(yàn)》;

GB/T2423.26—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法高溫/低氣壓試驗(yàn)》; 進(jìn)行低氣壓試驗(yàn),高、低溫/低氣壓試驗(yàn)。試驗(yàn)范圍:-70℃~1000760mmHg20%95%RH

7、振動(dòng)試驗(yàn) 按GB/T2423.10—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法振動(dòng)試驗(yàn)》進(jìn)行振動(dòng)試驗(yàn)。頻率范圍(機(jī)械振動(dòng)臺(tái)):560Hz(定頻振動(dòng)580Hz),zui大位移振幅3.5mm(滿(mǎn)載)。頻率范圍(電磁振動(dòng)臺(tái)):53000Hz,zui大位移25mmP-P

8、沖擊試驗(yàn) 按GB/T2423.5—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法沖擊試驗(yàn)》進(jìn)行沖擊試驗(yàn)。沖擊加速度范圍:(501500m/s2

9、碰撞試驗(yàn) 按GB/T2423.6—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法碰撞試驗(yàn)》進(jìn)行碰撞試驗(yàn)。

10、跌落試驗(yàn) 按GB/T2423.7—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法傾跌與翻到試驗(yàn)》; GB/T2423.8—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法自由跌落試驗(yàn)》進(jìn)行跌落試驗(yàn)。

 

海達(dá)儀器主打相關(guān)產(chǎn)品:恒溫恒濕箱冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)

 

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